蚀刻设备

ETCHER 系统核心硬件开发
etcher 要点
  • 等离子体源
    • CCP, ICP, RIE, Microwave
    • 过程: Poly, Oxide, Metal
  • 上部组件
    • Gas Shower Head Type, 基于射频源
    • Gas Top Feeding or Side Feeding
    • Gas Nozzle 类型和概念
    • 材料与设计理念, 基于射频源
  • 阴极组件
    • ESC Type (Unipolar, Bipolar Type)
    • ESC Heater Zone & T.C & Cooling
    • ESC Surface Type
    • Back Side He Flow Route
    • 射频偏置阴极组件设计
    • 阴极组件传热效率设计
  • 射频
    • 射频源的频率和功率
    • 射频偏置频率和功率
    • 射频外围设备概念(谐波和射频滤波器)
    • 射频功率机械设计
  • 工艺套件和泵送传导
    • Process Kits & Liner Kits & Coating 材料
    • EPD & Baffle & Pumping Port 概念设计
    • 腔室设计(加热和冷却)
LAON ETCHER 设备

Dicing Plasma PM

来源CCP
晶圆尺寸12”
射频Top & Bottom
处理室Bottom Side Pumping 概念 2~4 CHAMBER
工艺气体Dual Zone Gas Feed
ESCBipolar & Dual Backside He 控制

ETCH Plasma PM

来源ICP, CCP
晶圆尺寸12”
射频Top & Bottom
处理室Center Pumping 概念 2~4 CHAMBER
工艺气体Dual Zone Gas Feed
ESCUnipolar & Dual Backside He 控制

Pe_Cleaning Plasma PM

来源RIE
晶圆尺寸晶圆,玻璃
射频13.56MHz
处理室Bottom Pumping 概念
工艺气体Single Top Feed
ESC没有任何

Electrostatic Discharge Plasma Module

来源ICP
晶圆尺寸晶圆,玻璃
射频13.56MHz
处理室Side Pumping 概念
工艺气体Single Side Feed
ESC没有任何

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